Éudes & analyse de surfaces, XPS, LEIS

Responsable : CARDENAS Luis

Les techniques d’analyse de surface sont mises en œuvre et développées pour la caractérisation des catalyseurs et les études en science des surfaces.

La spectroscopie de photoélectrons (XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy) apporte des informations sur les concentrations relatives des éléments dans les premières couches atomiques et sur les états électroniques de ces éléments à différentes étapes de la préparation et/ou du traitement du catalyseur.

La rétrodiffusion d’ions lents (LEIS: Low Energy Ion Scattering Spectroscopy) est très sensible à la surface puisqu’elle permet de sonder le premier plan atomique. Elle est particulièrement adaptée aux études de ségrégation dans les alliages, à la mise en évidence de phénomènes d’enrobage de particules, aux profils de concentration dans les 1eres couches atomiques et à la caractérisation de l’extrême surface.